測(cè)厚儀用途主要是用來測(cè)量涂層或者是鍍層的厚度。那這些厚度對(duì)于制造加工來說是非常的重要的。比如說在汽車行業(yè),涂層主要是由一些設(shè)備的噴涂而成的,而厚度有的時(shí)候是不穩(wěn)定的。如果涂層噴涂過于薄的話,漆面的光滑度就會(huì)受到影響,其穩(wěn)定性也會(huì)受到影響,而知道厚度之后這個(gè)問題就能夠得到解決。
測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)的常見問題:
工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理,降低粗糙度,同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭與被檢物通過耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
工件曲率半徑太小,尤其是小管徑測(cè)厚時(shí),因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸,聲強(qiáng)透射率低(耦合不好)??蛇x用7M-P6小管徑專用探頭(6mm )管材下限15mm*2mm,能較精確的測(cè)量管道等曲面材料。
檢測(cè)面與底面不平行,聲波遇到底面產(chǎn)生散射,探頭無法接受到底波信號(hào)。
鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,在其中穿過時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減,被散射的沿著復(fù)雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒,造成不顯示??蛇x用頻率較低的粗晶專用探頭(2MHz)。
探頭接觸面有一定磨損。常用測(cè)厚探頭表面為丙烯樹脂,長(zhǎng)期使用會(huì)使其表面粗糙度增加,導(dǎo)致靈敏度下降,從而造成顯示不正確??蛇x用500#砂紙打磨探頭周邊,使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定,則考慮更換探頭。
被測(cè)物背面有大量腐蝕坑。由于被測(cè)物另一面有銹斑、腐蝕凹坑,造成聲波衰減,導(dǎo)致讀數(shù)無規(guī)則變化,在ji端情況下甚至無讀數(shù)。
被測(cè)物體(如管道)內(nèi)有沉積物,當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí),測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度,如管道內(nèi)水垢與管道緊密接觸。
當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時(shí),顯示值明顯與厚度值不符,此時(shí)可用探傷儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
溫度的影響。 一般固體材料中的聲速隨其溫度升高而降低,有試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,熱態(tài)材料每增加100°C,聲速下降1%。對(duì)于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。應(yīng)選用高溫專用探頭(依據(jù)具體溫度情況選用),切勿使用普通探頭。
層疊材料、復(fù)合(非均質(zhì))材料。要測(cè)量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的,因無法穿透未經(jīng)耦合的空間,而且不能在復(fù)合(非均質(zhì))材料中勻速傳播。對(duì)于由多層材料包扎制成的設(shè)備、工件,測(cè)厚時(shí)要特別注意,測(cè)厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度。
耦合劑的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測(cè)物體之間的空氣,使能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng),將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍,無法測(cè)量。因根據(jù)使用情況選擇合適的種類,當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí),可以使用低粘度的耦合劑;當(dāng)使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時(shí),應(yīng)使用粘度高(如黃油)的耦合劑。高溫工件應(yīng)選用高溫耦合劑。其次,耦合劑應(yīng)適量使用,涂抹均勻,一般應(yīng)將耦合劑涂在被測(cè)材料的表面,但當(dāng)測(cè)量溫度較高時(shí),耦合劑應(yīng)涂在探頭上。
聲速選擇錯(cuò)誤。測(cè)量工件前,根據(jù)材料種類預(yù)置其聲速或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)塊反測(cè)出聲速。當(dāng)用一種材料校正儀器后(常用試塊為鋼)又去測(cè)量另一種材料時(shí),將產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié)果。要求在測(cè)量前一定要正確識(shí)別材料,選擇合適聲速。一般測(cè)厚儀具用反測(cè)聲速功能,謂之材料聲速,可在測(cè)量之前,先測(cè)出工件聲速。
金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層,雖與基體材料結(jié)合緊密,無名顯界面,但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的,從而造成誤差,且隨覆蓋物厚度不同,誤差大小也不同。一般測(cè)厚儀測(cè)量,需去除覆蓋物。